Hostname: page-component-848d4c4894-v5vhk Total loading time: 0 Render date: 2024-06-20T12:32:37.760Z Has data issue: false hasContentIssue false
  • English
  • Français

Optical, Structural and Interface Characterization of Single SiO2-SiC Core-Shell Nanowires Grown with a Low-Cost Method

Published online by Cambridge University Press:  01 August 2010

F Fabbri ,
F Rossi ,
G Attolini ,
G Salviati ,
S Iannotta ,
L Aversa ,
R Verucchi ,
M Nardi ,
N Fukata  and
B Dierre
...Show all authors
F Fabbri
Affiliation:
Consiglio Nazionale delle Ricerche, Instituto dei Materiali per l’ Elettronica ed il Magnetismo, Italy
F Rossi
Affiliation:
Consiglio Nazionale delle Ricerche, Instituto dei Materiali per l’ Elettronica ed il Magnetismo, Italy
G Attolini
Affiliation:
Consiglio Nazionale delle Ricerche, Instituto dei Materiali per l’ Elettronica ed il Magnetismo, Italy
G Salviati
Affiliation:
Consiglio Nazionale delle Ricerche, Instituto dei Materiali per l’ Elettronica ed il Magnetismo, Italy
S Iannotta
Affiliation:
Consiglio Nazionale delle Ricerche, Instituto dei Materiali per l’ Elettronica ed il Magnetismo, Italy
L Aversa
Affiliation:
Consiglio Nazionale delle Ricerche, Instituto di Fotonica e Nanotecnologie, Italy
R Verucchi
Affiliation:
Consiglio Nazionale delle Ricerche, Instituto di Fotonica e Nanotecnologie, Italy
M Nardi
Affiliation:
Consiglio Nazionale delle Ricerche, Instituto di Fotonica e Nanotecnologie, Italy
N Fukata
Affiliation:
National Institute for Materials Science, Japan;
B Dierre
Affiliation:
National Institute for Materials Science, Japan;
T Sekiguchi
Affiliation:
National Institute for Materials Science, Japan;

Extract

Core share and HTML view are not available for this content. However, as you have access to this content, a full PDF is available via the ‘Save PDF’ action button.

Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2010 in Portland, Oregon, USA, August 1 – August 5, 2010.

Type
Abstract
Information
Microscopy and Microanalysis , Volume 16 , Supplement S2 , July 2010 , pp. 826 - 827
Copyright
Copyright © Microscopy Society of America 2010