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A Tomographic Atom Probe laser assisted by a flexible optical system

Published online by Cambridge University Press:  30 July 2021

Jonathan Houard
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France
Angela Vella
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France
Gérald Da Costa
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France
Ivan Blum
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France
Fabien Delaroche
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France
Charly Vaudolon
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France
François Vurpillot
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France
Lorenzo Rigutti
Affiliation:
Groupe de Physique des Matériaux UMR CNRS 6634 – Université Rouen-Normandie et INSA de ROUEN, Haute-Normandie, France

Abstract

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Type
Advanced Application of Atom Probe Tomography: Specimen preparation, Instrumentation, and Data analysis
Copyright
Copyright © The Author(s), 2021. Published by Cambridge University Press on behalf of the Microscopy Society of America

References

Kelly, T. F., et al. , Current Opinion in Solid State and Materials Science 18 (2014), Pages 81-89Google Scholar
Houard, J., et al. , Review of Scientific Instruments 91, 083704 (2020)CrossRefGoogle Scholar
Vella, A., et al. , Sci. Adv. 7, eabd7259 (2021).Google Scholar